製品情報　パラメトリックテスト用プローブカード

プローブカード各種

パラメトリッククテスト用 　　　　　　

高周波用

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　パラメトリックテスト用プローブカード

　特徴

　　・低高温下での測定が可能　（-55℃～200℃）
　　・微小電流測定が可能　　（<10ｆA)
　　・高温下での針ずれがありません　
　　・アジレント407X、4062　対応です。

*納期はお問い合わせください。
*その他ご要望を御相談くださいませ。