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プローブカード各種 
 パラメトリックテスト用プローブカード      信頼性評価用プローブカード
 
・高温・微小電流用
　プローブカード
・アジレント407X ､4062対応
・角型標準基板対応
・12インチまでウエハー
　一面内一括コンタクト
　が可能
・350℃で使用か可能
 高周波用プローブカード  DCマルチコンタクトプローブ
 
・高周波デバイスのOn Wafer
 Test を実現

 
・デバイス近傍に 
　LCRチップ部品を実装 
　できる為、発振等を抑え
 安定した測定が可能
 
*納期はお問い合わせください。
*その他ご要望を御相談くださいませ。 
 TEL 06-6838-3233/ FAX 06-6838-3234
 
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