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| 製品情報 | |||||||||
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お客様のテスト内容に応じて最適な プローブカードをご提案致します。 |
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半導体測定用トライアキシャルケーブル 微少電流測定に不可欠なコネクタです。 |
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(プローブステーション) ”α”シリーズはチップサイズから300mmサイズまで幅広く取り揃えております。 また液晶評価用や高周波用など特殊な仕様にアレンジ可能です。WLR測定に最適なプローバーも取り揃えております。 |
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板上に実装されたデバイスの温度環境 試験は高精度な温度制御装置 ”ICタッチ”におまかせください。 安価で小型、品質保証や故障解析などで お役に立ちます。 |
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今まであきらめていた、 素子内の微小容量を直接評価できます。 |
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豊富なオプションで多様な測定環境をご提案 *他社プローバーに合うように設計変更品も承ります。 |
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Windouws上に構築されたソフトウェアによりBT処理が自動的に行えます。 |
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安価で4深針プローブ測定機をご提供 |
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| TEL 06-6838-3233 FAX 06-6838-3234 |
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