お知らせ

ナノプロービングによる次世代の電気的故障解析ウェビナー2021年5月11日(火)16時

Imina Technologies社ナノプローブは、マイクロエレクトロニクスデバイスの電気的特性評価、不良部解析を目的として SEM および FIB 試料室内ですぐに使用して頂けるソリューションです。

今回は、特に革新的で統合されたEBIC-EBAC機能とワークフローソリューション向けのエキサイティングな新機能をご紹介します。

2021年5月11日(火)16時(日本時間)開始

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